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圖像法納米粒度分析儀的優(yōu)越結(jié)構(gòu),提高了粒度測量準(zhǔn)確性,今天所介紹的圖像法納米粒度分析儀,結(jié)構(gòu)上包括了漏砂斗、震動(dòng)器、導(dǎo)砂槽、風(fēng)機(jī)、落紗檢測管和粒度檢測儀,導(dǎo)砂槽為上部開口的槽狀體,槽狀體的左端一側(cè)封閉,右端部開口,震動(dòng)器與槽狀體的左端一側(cè)連接,漏砂斗固定于導(dǎo)砂槽的正上方,且位于導(dǎo)砂槽的左側(cè),導(dǎo)砂槽右端開口一側(cè)正下方固定有落紗檢測管,粒度檢測儀固定在落紗檢測管的側(cè)壁上,用于檢測從導(dǎo)砂槽震落下來的砂粒的狀態(tài);在落紗檢測管正上方設(shè)置有一風(fēng)機(jī),用于對從導(dǎo)砂槽落下的砂粒進(jìn)行加速。結(jié)構(gòu)簡單,檢測的砂粒準(zhǔn)確,同時(shí)從出砂槽中落下的砂粒間距均勻,鑄造砂經(jīng)過煅燒出爐后,在制作砂芯時(shí),需要對篩選后的砂粒的粒度進(jìn)行檢測,以防影響后續(xù)使用,但是目前在檢測砂粒粒度時(shí),由于出砂槽的下料速度過快,導(dǎo)致砂粒在經(jīng)過檢測儀時(shí),在同一水平面上會(huì)有好幾個(gè)甚至更多的砂粒重合,導(dǎo)致檢測數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。給后續(xù)生產(chǎn)帶來嚴(yán)重的損失。耐克特的圖像法納米粒度分析儀,結(jié)構(gòu)簡單,檢測的砂粒準(zhǔn)確,同時(shí)從出砂槽中落下的砂粒間距均勻。
耐克特設(shè)備儀器采用的技術(shù)方案:圖像法納米粒度分析儀,它包括漏砂斗、震動(dòng)器、導(dǎo)砂槽、風(fēng)機(jī)、落紗檢測管和粒度檢測儀,導(dǎo)砂槽為上部開口的槽狀體,槽狀體的左端一側(cè)封閉,右端部開口,震動(dòng)器與槽狀體的左端一側(cè)連接,漏砂斗固定于導(dǎo)砂槽的正上方,且位于導(dǎo)砂槽的左側(cè),導(dǎo)砂槽右端開口一側(cè)正下方固定有落紗檢測管,粒度檢測儀固定在落紗檢測管的側(cè)壁上,用于檢測從導(dǎo)砂槽震落下來的砂粒的狀態(tài);在落紗檢測管正上方設(shè)置有一風(fēng)機(jī),用于對從導(dǎo)砂槽落下的砂粒進(jìn)行加速。耐克特設(shè)備儀器與現(xiàn)有技術(shù)相比其有益效果是:耐克特納米粒度分析儀設(shè)備儀器結(jié)構(gòu)簡單,檢測的砂粒準(zhǔn)確,同時(shí)從出砂槽中落下的砂粒間距均勻。耐克特設(shè)備儀器通過在落紗檢測管上方增設(shè)一風(fēng)機(jī),加速了砂粒的落砂速度,減小了砂粒在降落過程中重疊的現(xiàn)象,提高了粒度檢測的準(zhǔn)確性。
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