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納米粒度儀測定原理液中傳播時,由于懸濁液中超細(xì)的存在,導(dǎo)致入射超聲波在傳播 過程中聲速以及聲能的衰減。超 系數(shù),然后結(jié)合數(shù)學(xué)模型中給出 的衰減與顆粒粒度的關(guān)系, EC/AH模型的基礎(chǔ)上, 有學(xué)者構(gòu)建了懸 4DKext( Kext為消聲系數(shù)。由上式可以看 尺寸分布的。由于超聲波具有穿透力強、頻帶寬、非接觸的特性, 0.01~1000 之間的顆粒粒徑,并且適用 于濃縮系統(tǒng)( 一般體積固含量可 關(guān)系。排除多值性影響,只要測 得至少兩個頻率下的聲衰減, 1.2聲衰減模型 EC/AH 76紙和造紙 2007 可求得顆粒的平均直徑,再將其 待測樣品需要量150mL, 體積固含量 0.1% ~50% 顆粒尺寸范圍 0.01~100μm。樣品加入 高濃度懸濁液)5min, 然后超聲 分散 5min。

因而在工業(yè)生產(chǎn)中，大量生產(chǎn)納米粒度儀、使用粉體材料，行業(yè)粉體材料粒度控制直接影響產(chǎn)品質(zhì)量。如在復(fù)合基、紙基覆銅板、環(huán)保型覆銅 板以及有機封裝基板等新型電子材料生產(chǎn)中，使用的粉體材料對最終產(chǎn)品的性能 至關(guān)重要；在環(huán)氧包封料的生產(chǎn)中，粒度分布是環(huán)氧包封料的重要質(zhì)量特性控制 指針，可見，粉體材料的粒度分析對生產(chǎn)、科研具有重要的意義【ｌ 粉體材料是由大量大小不一、形狀各異的顆粒組成的顆粒系統(tǒng)，對顆粒粒度、粒度分布的測量，是對粉體材料的生產(chǎn)工藝、生產(chǎn)設(shè)備或粉體材料進(jìn)行性能評價 必不可少的工作之一。